Двулучевой электронный микроскоп DB-50

DB-50 - это двулучевой сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом c термополевой эмиссией типа Шоттки. Прибор обладает широкой вакуумной камерой и большим предметным столом, удобной оптической навигацией по образцам, имеет широкий выбор детекторов, а также порты для установки различного дополнительного аналитического оборудования и проведения динамических экспериментов (нагрев, охлаждение, сжатие, растяжение и т.д.).

Усовершенствованная конструкция корпуса объектива, высоковольтная туннельная технология (SuperTunnel), конструкция объектива с низкой аберрацией и отсутствие магнитной объективной линзы позволяют получать изображения высоким разрешением на низких ускоряющих напряжениях, в том числе проводить анализ магнитных образцов. 

Ионная колонна (ФИП)  не только дает возможность получения кросс-секций, но и при наличии наноманипулятора (опция) позволяет готовить ПЭМ-образцы с высокой степенью локализации исследуемых объектов, с их последующим их анализом как локально с помощью СПЭМ-детектора (опция), так и удалённо на ПЭМ сверхвысокого разрешения. 

Оптическая навигация, функции автоматизации, хорошо продуманный пользовательский интерфейс, оптимизированные рабочие процессы -  даже при отсутствии у вас опыта эксплуатации прибора, вы можете быстро приступить к работе и выполнять исследовательские задачи с гарантированно качественным результатом.

Основные преимущества:

• ФИП высокого разрешения для получения кросс-секций и изготовления ПЭМ-образцов;
• изображения с высоким разрешением при низком ускоряющем напряжении;
• электромагнитный комбинированный объектив уменьшает аберрации, значительно улучшает разрешение при низком напряжении и позволяет наблюдать магнитные образцы;
• большая рабочая камера;
• навигационная камера уже в базовой комплектации;
• регулируемая диафрагма с магнитным отклонением с шестью отверстиями, автоматическое переключение отверстий диафрагмы, отсутствие необходимости в механической регулировке позволяют быстро переключать ток пучка между аналитическим режимом и режимом высокого разрешения;
• системы автоматизации для качественной визуализации и настройки систем микроскопа.